表面热电离质谱的进展

仪器资料 · 发表于 2018-2-1 12:46:00

表面热电离质谱的进展
无机质谱是本世纪四十年代就已经建立起来的一门分析技术[ 1 ]1 继火花源无机质谱
之后, 还出现了以辉光放电、激光、电感耦合等离子体及微波等离子体为离子化源的各种
质谱方法1 然而, 基于试样带高温加热产生表面热致电离的表面热电离质谱(Therm al
Ion izat ionM ass Spect rom et ry, T IM S) 仍然在很多领域得到广泛地应用[ 2 ]1 其最主要的
特征是能准确测定同位素比, 是地球化学及同位素研究的主要手段之一1 同位素稀释质
谱是公认的一种高灵敏度、高准确度的分析方法1 近年来, 表面热电离质谱的研究又发展
到环境和医学领域, 用于痕量物质的准确定量以及提供同位素的有关信息1 在地球化学、
宇宙化学领域, 地球样品、陨石样品中同位素的组成被用于地质年代法确定其生成年代1
最近, 有关同位素异常的研究较多, 同位素比微小的异常, 有可能提供诸如超新星爆发时
的原子核反应, 星体的延生与进化等信息1
表面热电离质谱一般指正离子热电离质谱1 但近年来负离子质谱研究及应用也令人
注目1 本文介绍表面热电离质谱在改善灵敏度、准确度方面的进展, 重点放在负离子质谱
上

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