背景吸收及其校正技术

仪器资料 · 发表于 2018-1-29 07:18:03

背景吸收及其校正技术

塞曼原子吸收的灵敏度低于普通原子吸收的灵敏度，这是由于不可忽略样品蒸气在参考光束的吸收。影响塞曼原子吸收灵敏度的因素主要有三个：（1）磁感应强度；（2）塞曼分裂的模型；（3）光源发射线的轮廓。三者是互相联系的。
由于塞曼分裂的模型对灵敏度产生了影响，因此为了获得更好的信噪比，在塞曼背景校正时一些元素使用的分析显得有变化，例如：在塞曼原子吸收测铬时，使用359.3nm而不是普通原子吸收的357.9nm；测锡用286.3nm而不是224.6nm，测铟时需要使用0.1nm光谱带宽避开325.9nm线，使用325.6nm线得到的灵敏度比柱分析线303.9nm线高两倍。
有些元素的分析线因塞曼分裂的程度不同灵敏度下降亦不同，可以利用这种现象扩大分析范围。例如：在普通原子吸收中Na589.0nm和589.6nm灵敏度相差不到一倍，而在塞曼法中两者灵敏度比约6：1。K766.5nm线和769.9nm线在普通原子吸收中灵敏度比为2.1：1.0，而在塞曼法中约为12：1。因此在塞曼法中利用不同的分析线，使分析范围几乎能扩展一个数量级，对于含量范围变化较大的样品，充分利用这一特性是很有价值的。

请点击此处下载

请先注册会员后在进行下载

已注册会员，请先登录后下载