二阶导数光谱峰面积积分法同时测定痕量锗和钼

仪器资料 · 发表于 2018-10-24 07:18:39

二阶导数光谱峰面积积分法同时测定痕量锗和钼
　锗和钼在生物体的生理代谢过程中起着重要
的作用,且二者常常同时共存。药物中痕量锗和钼
的测定,尤其不分离同时测定,已经引起人们的重
视和兴趣。目前,测定锗与钼的方法很多[1～5 ] ,而
用二阶导数光谱2峰面积积分光度法同时测定锗和
钼的方法还未见报道。传统苯基荧光酮(PF)2氯代
十六烷基吡啶(CPC) 显色体系测定锗和钼,由于形
成络合物的吸收波长分别在λ= 509. 45 nm 和λ=
540. 74 nm ,吸收峰重叠而相互干扰(图1) 。因此常
用萃取分离的方法[6 ,7 ] ,操作非常繁琐。如果对上
述体系进行二阶导数2峰零法的处理,虽然可以解
决光谱重叠问题(图2) 。但由于λmax常发生漂移,
准确性又差。在此基础上,本文采用二阶导数光谱
2峰面积积分光度法,建立了在水相体系中快速、准
确、同时测定痕量锗和钼的新方法。

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