JEDEC-CDM-JESD22-C101D

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Field-Induced Charged-Device Model Test Method for Electrostatic- Discharge-Withstand Thresholds of Microelectronic Components e55r|50[/pan]

阅读:1689 | 评论:27网友评论:

  • Bogum 发表于 2022-8-27 03:03:18
    啥也不说了,感谢一起下吧和楼主的分享哇!
  • sover 发表于 2022-8-25 11:39:20
    這麼好的帖子都沒有人頂!d=====( ̄▽ ̄*)b,我來多頂頂樓主
  • 莫羊羊 发表于 2022-8-23 13:04:33
    這個資源非常需要,支持一起下吧!
  • sinceccf 发表于 2022-8-21 20:19:21
    珍惜生命,果断回帖;酌一杯清茶,品一起下吧资源
  • 小凡 发表于 2022-8-20 14:46:17
    啥也不说了,感谢一起下吧和楼主的分享哇!

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