半导体光谱分析与拟合计算
陆卫等编著的《半导体光谱分析与拟合计算(附光盘)(精)》涉及的范围为半导体线性光学性质范畴内最常用的几种光谱分析：透射光谱与反射光谱、光荧光光谱、调制光谱等。为了让读者对半导体光谱模型与应用有一个比较完整的了解，本书的第1章介绍了光谱测量中的一些基本问题，第2章简要地给出了建立光谱模型所依赖的半导体物理以及电磁场理论基础。第3章一第5章全面描述了几种光谱分析的基本模型和应用。为了使读者能更好地理解物理模型与计算机程序应用，这些章节还给出了实用范例，并将这些范例与半导体材料、器件的最新研究进展相结合，以便读者了解相关领域的一些新进展。第6章介绍了综合利用不同光谱对量子阱红外探测器的性能进行表征。第7章介绍了本书计算机程序中的拟合计算方法所采用的新计算途径以及本书涉及的光谱拟合计算机程序的使用方法及要点。附录给出了与光谱性质有关的物理常量和常用半导体物理性质。本书附有包含所有应用程序的光盘。
《半导体光谱分析与拟合计算》总结了作者多年来在半导体光谱方面的研究工作，致力于光谱特点的分析，用量子力学以及必要的计算机手段萃取了光谱所反映的物质微观层次的本性。提供的计算机程序以及相关的例子将有助于读者边学习边应用。可以预见将卓有成效地提高读者分析光谱的理论水平与实际能力
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