膜去溶和ICP-MS联用测定CMOSII氢氟酸和丙酮中金属离子的含量

膜去溶和ICP-MS联用测定CMOSII氢氟酸和丙酮中金属离子的含量

目的 建立CMOS II 氢氟酸和丙酮中多元素含量的测定方法。方法 以膜去溶作为进样系统，电感耦合等离子体
质谱仪(ICP-MS) 作为分析仪器，氢氟酸和丙酮都以Cd 作为内标进样，每个样品测定加标回收率。结果 进样
速度快，无基体干扰，稳定性好，结果准确。结论 ICP-MS 是分析HF 和丙酮中金属离子的有效方法，膜去溶
的使用解决了使用玻璃雾化器和石英炬管时氢氟酸无法直接进样的问题，同时也大大降低了进有机样品时C
的沉积和多原子干扰。

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samrise

這麼好的帖子都沒有人頂！d=====(￣▽￣*)b，我來多頂頂樓主

碧海蓝天

珍惜生命，果断回帖；酌一杯清茶，品一起下吧资源

hrs990100

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美人鱼

么有分，谁能送我点搬砖数值啊::>_<::

afafafaf

這個資源非常需要，支持一起下吧！

rivers99

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ol23

额，為神馬現在才發現一起下吧的資源啊~@_@

cptbtptp1227

确实是难得好帖啊，讓我涕流滿面，頂頂一起下吧先

liuwenbin

啥也不说了，感谢一起下吧和楼主的分享哇！